Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  泰克Teksight  >  示波器  >  DSA8200示波器

示波器

简要描述:DSA8200 采样示波器为较具挑战的系统设计提供信号高保真度。当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试,DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。

  • 产品型号:DSA8200
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-08-19
  • 访  问  量:486

详细介绍

品牌TeKtronix/美国泰克产地类别进口
应用领域综合

保修政策 

Tektronix 保证本产品自发货之日起一 (1) 年内不会出现材料和工艺缺陷。如果在此保修期内证明任何此类产品有缺陷,泰克将自行选择免费维修有缺陷的产品,而无需支付零件和人工费用,或者提供更换件以换取有缺陷的产品。泰克用于保修工作的零件、模块和更换产品可能是新的,也可能是经过翻新的,以达到新的性能。所有更换的零件、模块和产品都成为泰克公司的财产。为了获得本保修项下的服务,客户必须在保修期届满之前将缺陷通知泰克,并为服务的性能做出适当的安排。客户应负责将有缺陷的产品包装并运送到泰克认定的服务中心,并预付运费。如果货物运往泰克服务中心所在国家/地区的某个地点,则泰克应支付将产品退回给客户的费用。客户应负责支付退回任何其他地点的产品的所有运费、关税、税款和任何其他费用。本保修不适用于因使用不当或维护和保养不当或不足而造成的任何缺陷、故障或损坏。泰克没有义务根据本保修提供服务 a) 修复因泰克代表以外的人员尝试安装、修理或服务产品而造成的损坏;b) 修复因使用不当或连接到不兼容设备而造成的损坏;c) 修理因使用非泰克电源而造成的任何损坏或故障;或 d) 对已修改或与其他产品集成的产品进行维修,当此类修改或集成的影响增加了维修产品的时间或难度时。本保证由泰克提供,以代替任何其他明示或暗示的保证。TEKTRONIX 及其供应商不对适销性或特定用途的适用性作出任何默示保证。泰克负责修理或更换有缺陷的产品,这是因违反本保修而向客户提供的维一和排他性补救措施。对于任何间接的、特殊的、偶然的或后果性的损害,无论泰克或供应商是否事先通知了此类损害的可能性,泰克及其供应商概不负责。

一般安全摘要:

重新view 以下安全预防措施以避免受伤并防止损坏本产品或与之连接的任何产品。为避免潜在危险,请仅按照规定使用本产品。只有合格的人员才能执行服务程序。使用此产品时,您可能需要访问较大系统的其他部分。阅读其他组件手册的安全部分,了解与操作系统相关的警告和注意事项。为避免火灾或人身伤害,请使用合适的电源线。仅使用为本产品认定并经过使用国家/地区认证的电源线。正确连接和断开连接。请勿在探头或测试线连接到时连接或断开它们tage 源。将产品接地。本产品通过电源线的接地导体接地。为避免触电,接地导体必须接地。在连接到产品的输入或输出端子之前,请确保产品正确接地。遵守所有终端额定值。为避免火灾或电击危险,请遵守产品上的所有额定值和标记。在连接到产品之前,请查阅产品手册以获取进一步的额定值信息。输入的额定值不适合连接到电源或 II、III 或 IV 类电路。请勿对超过该终端最大额定值的任何终端(包括普通终端)施加电位。断电。电源开关会断开产品与电源的连接。请参阅位置说明。不要堵塞电源开关;它必须始终对用户保持可访问。请勿在没有盖子的情况下操作。请勿在取下盖子或面板的情况下操作本产品。请勿在疑似故障的情况下操作。如果您怀疑本产品有损坏,请让合格的维修人员进行检查。避免裸露的电路。当有电时,请勿触摸裸露的连接和组件。使用合适的保险丝。仅使用为本产品认定的保险丝类型和额定值。佩戴护目镜。如果暴露于高强度射线或激光辐射,请佩戴护目镜。不要在潮湿/潮湿的环境中操作amp 条件。请勿在爆炸性环境中操作。保持产品表面清洁干燥。提供适当的通风。有关安装产品以使其具有适当通风的详细信息,请参阅手册的安装说明。



为较具挑战的系统设计提供信号高保真度
当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试,DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。

DSA8200采样示波器概述

功能

优点

最多4个真实差分通道利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备,如放大器。
高带宽(50 GHz)时域反射仪以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
光学模块噪声低,光学灵敏度高,拥有消光比校准功能及宽波长。通过一个光学测试解决方案,满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
IConnect® 信号完整性利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
串行数据网络分析 (SDNA)通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动,确保可靠的系统运行。
串行数据链路分析 (SDLA)通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置增加接收器的眼睁时间。
远程采样头通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和减小探头、电缆及测试治具的影响。


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
欢迎您的咨询
我们将竭尽全力为您用心服务
2822212495
扫码加微信
版权所有 © 2024 上海骋利电子科技有限公司  备案号:沪ICP备2021016462号-2

TEL:15800509017

扫码加微信