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HIOKI C测试仪 3506-10 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 根据BIN的测定区分容量
HIOKI U8793 任意波形发生单元2ch任意波形信号输出；可最大15V输出用存储记录仪测量到的异常波形信号；可最大15V输出自定义的任意的波形信号；和存储记录仪组合使用
HIOKI MR8791 脉冲发生单元可8ch输出的脉冲波形信号；和存储记录仪系列组合使用；各通道和外壳之间绝缘
HIOKI MR8790 波形发生单元4chDC，和最大20kHz的正弦波信号输出；信号输出±10V, 5mA；和存储记录仪系列组合使用；各通道之间，以及通道和外壳之间绝缘
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