当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）要求进行参数测试，以便限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。带有 KTE 7 软件的吉时利 S530 系列参数测试系统提供高速、灵活的配置，能够随着新应用的出现和需求变化而不断发展。S530 可进行高达 200 V 的测试，而 S530-HV 可以在任何引脚上进行高达 1100 V 的测试，与竞争解决方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接对接探测器和原有探头卡重新使用的可选系统测试头，支持汽车标准 IATF-16949 要求的系统级 ISO-17025 引脚校准，以及从原有的 S600 和 S400 系统进行迁移的、最顺畅的路径，具有完整的数据关联性并提高了速度。540 参数测试系统是一个全自动化的 48 引脚参数测试系统，适用于高达 3kV 的功率半导体器件和结构的晶片级测试。集成式 S540 已针对包括碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (G......

吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置，从用于 QA 实验室的一些台式仪器到集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS，用户可使用自动硬件管理工具配置仪器，并快速执行测试，无需具备编程知识。下载免费试用版软件

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。 我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。